詳細(xì)摘要： XU-100X熒光光譜測(cè)厚儀高精尖檢測(cè)技術(shù)，搞定企業(yè)品質(zhì)管控！XU-100光譜測(cè)厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計(jì)，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏...

詳細(xì)摘要： 高性?xún)r(jià)比上照式光譜測(cè)厚儀，對(duì)各類(lèi)鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè)檢測(cè)大量的小部件

詳細(xì)摘要： 國(guó)nei首chuang、全qiu領(lǐng)xian的多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)，輕松應(yīng)對(duì)超小測(cè)量點(diǎn)薄涂層和極薄涂層的測(cè)量分析，在柔性電路板、芯片封裝環(huán)節(jié)、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自...